发明授权
- 专利标题: 用于锁相环的损坏的时钟检测电路
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申请号: CN201910162371.2申请日: 2019-03-05
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公开(公告)号: CN110247656B公开(公告)日: 2024-04-26
- 发明人: E·P·林德伦 , A·司里德 , J·加纳旦那
- 申请人: 德克萨斯仪器股份有限公司
- 申请人地址: 美国德克萨斯州
- 专利权人: 德克萨斯仪器股份有限公司
- 当前专利权人: 德克萨斯仪器股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国德克萨斯州
- 代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司
- 代理商 赵志刚; 赵蓉民
- 主分类号: H03L7/18
- IPC分类号: H03L7/18 ; H03L7/095
摘要:
本申请公开了用于锁相环的损坏的时钟检测电路。选择电路(202)接收多个参考时钟。选择电路(202)由控制信号控制,以输出多个参考时钟中的一个。锁相环(204)耦合到选择电路(202)的输出,并使用所选择的参考时钟来对输出时钟进行锁相。包括多个参考时钟窗口检测器电路(210)。每个参考时钟窗口检测器电路(210)接收单独的参考时钟。每个参考时钟窗口检测器电路(210)响应于提早参考时钟边沿误差而断言误差信号,其中参考时钟窗口检测器电路(210)在提早时间窗口期满之前检测参考时钟边沿。此外,每个参考时钟窗口检测器电路(210)响应于推迟参考时钟边沿误差而断言误差信号,其中参考时钟窗口检测器电路(210)在推迟时间窗口期满之后检测参考时钟边沿。
公开/授权文献
- CN110247656A 用于锁相环的损坏的时钟检测电路 公开/授权日:2019-09-17