Invention Grant
- Patent Title: 闭环检测方法、装置、设备和计算机可读介质
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Application No.: CN201810409332.3Application Date: 2018-05-02
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Publication No.: CN110443263BPublication Date: 2022-06-07
- Inventor: 门春雷 , 刘艳光 , 巴航 , 张文凯 , 徐进 , 韩微 , 郝尚荣 , 郑行 , 陈明轩
- Applicant: 北京京东尚科信息技术有限公司 , 北京京东世纪贸易有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区杏石口路65号西杉创意园四区11号楼东段1-4层西段1-4层;
- Assignee: 北京京东尚科信息技术有限公司,北京京东世纪贸易有限公司
- Current Assignee: 北京京东尚科信息技术有限公司,北京京东世纪贸易有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区杏石口路65号西杉创意园四区11号楼东段1-4层西段1-4层;
- Agency: 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司
- Agent 王达佐; 马晓亚
- Main IPC: G06V10/74
- IPC: G06V10/74 ; G06K9/62 ; G06V30/194 ; G06V10/44

Abstract:
本申请实施例公开了闭环检测方法和装置。上述方法的一具体实施方式包括:提取目标图像的特征,得到目标图像的特征点和第一特征向量;根据上述特征点,在目标图像中选取图像块;将图像块输入预先建立的深度学习模型,得到图像块的第二特征向量,其中,上述深度学习模型用于表征图像块与特征向量的对应关系;融合第一特征向量和第二特征向量,得到融合向量;根据融合向量与历史融合向量的相似度以及预设阈值,确定是否发生闭环。该实施方式减小了计算误差。
Public/Granted literature
- CN110443263A 闭环检测方法和装置 Public/Granted day:2019-11-12
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