发明公开
- 专利标题: 半导体工艺、半导体器件的制作方法以及半导体器件
- 专利标题(英): Semiconductor process, manufacturing method of semiconductor device and semiconductor device
-
申请号: CN201910775850.1申请日: 2019-08-21
-
公开(公告)号: CN110676152A公开(公告)日: 2020-01-10
- 发明人: 程纪伟 , 夏志良 , 周文犀 , 蒲月强 , 孙中旺 , 苏睿
- 申请人: 长江存储科技有限责任公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- 专利权人: 长江存储科技有限责任公司
- 当前专利权人: 长江存储科技有限责任公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区东湖开发区关东科技工业园华光大道18号7018室
- 代理机构: 北京康信知识产权代理有限责任公司
- 代理商 董文倩
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; H01L27/11551 ; H01L27/11578
摘要:
本申请提供了一种半导体工艺、半导体器件的制作方法以及半导体器件。该半导体工艺包括:形成具有凹槽的半导体基底;在凹槽中设置预定材料,直到预定材料的厚度大于或者等于预定厚度,其中,预定材料为流体材料;控制半导体基底旋转,半导体基底旋转的旋转轴平行于半导体基底的厚度方向;固化预定材料,形成填充结构。该半导体工艺解决了现有技术中难以无缝填充深宽比较大的凹槽的问题,保证了形成的填充结构的性能较好,进而保证了包括由该半导体工艺形成的半导体器件的性能较好。并且,该工艺容易控制,成本较低,可以广泛地应用在各种半导体器件的制作过程中。
IPC分类: