- 专利标题: 在成像技术中估计振幅及相位不对称性以在叠加计量中达到高精准度
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申请号: CN201880044567.5申请日: 2018-07-05
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公开(公告)号: CN110870052B公开(公告)日: 2021-09-10
- 发明人: T·马西安诺 , N·古特曼 , Y·帕斯卡维尔 , G·科恩 , V·莱温斯基
- 申请人: 科磊股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 科磊股份有限公司
- 当前专利权人: 科磊股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- 代理商 刘丽楠
- 优先权: 62/529,107 20170706 US 62/622,712 20180126 US
- 国际申请: PCT/US2018/040947 2018.07.05
- 国际公布: WO2019/010325 EN 2019.01.10
- 进入国家日期: 2020-01-02
- 主分类号: H01L21/66
- IPC分类号: H01L21/66
摘要:
本发明提供通过识别其中(若干)对应计量测量信号具有最小振幅不对称性的(若干)计量测量参数值而导出所述(若干)值的计量方法。如所揭示选择所述测量参数值明显降低测量不精准度。例如,可检测波长值及/或焦点值以指示最小振幅不对称性及/或最小相位不对称性。在某些实施例中,提供最小振幅不对称性的波长值也提供对焦点的最小信号灵敏度。开发的度量可进一步用于指示跨晶片及批次的工艺稳健性。在一些实施例中,可通过振幅不对称性的离焦横向化及具有最小振幅不对称性的参数值的检测而增强成像精准度。
公开/授权文献
- CN110870052A 在成像技术中估计振幅及相位不对称性以在叠加计量中达到高精准度 公开/授权日:2020-03-06
IPC分类: