- 专利标题: 一种采用水浸式C-scan设备测量焊接型靶材厚度的方法
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申请号: CN201911233947.6申请日: 2019-12-05
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公开(公告)号: CN111060044B公开(公告)日: 2021-06-08
- 发明人: 沈月 , 闻明 , 谭志龙 , 王传军 , 许彦亭 , 普志辉 , 毕珺 , 管伟明
- 申请人: 贵研铂业股份有限公司
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区高新技术开发区科技路988号(昆明贵金属研究所)
- 专利权人: 贵研铂业股份有限公司
- 当前专利权人: 贵研铂业股份有限公司
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区高新技术开发区科技路988号(昆明贵金属研究所)
- 代理机构: 昆明今威专利商标代理有限公司
- 代理商 邵会昌
- 主分类号: G01B17/02
- IPC分类号: G01B17/02 ; G01N29/06 ; G01N29/07 ; G01N29/28 ; G01N29/44
摘要:
本发明针对与背板焊接结合的靶材加工成型后或磁控溅射后靶材部分厚度在不破坏前提下无法直接精确测量的问题,公开了一种采用水浸式C‑scan设备测量焊接型靶材厚度的方法。此方法将焊接型靶材和探头均浸泡在超纯水中,运行C扫软件并利用超声纵波脉冲反射技术、以界面波波峰位置作为起始点的测量类型,通过已知靶坯厚度测量出靶材的声速,在后续与背板结合并加工成型后或磁控溅射后,利用已测靶材声速测量出此时靶材部分的厚度。该方法获得的焊接型靶材部分厚度与解除焊接结合后(即破坏后)直接测量靶材部分厚度的误差≤±5%,准确性能够保证,有效解决了加工焊接型靶材的厚度管控问题,也可有效指导靶材使用寿命的监控,提高焊接型靶材的使用率。
公开/授权文献
- CN111060044A 一种采用水浸式C-scan设备测量焊接型靶材厚度的方法 公开/授权日:2020-04-24