- 专利标题: 一种基于光学超表面的MEMS微振镜监测装置及方法
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申请号: CN202010106616.2申请日: 2020-02-21
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公开(公告)号: CN111189617B公开(公告)日: 2021-08-03
- 发明人: 马宣 , 王兆民 , 周兴 , 杨神武 , 孙瑞
- 申请人: 奥比中光科技集团股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
- 专利权人: 奥比中光科技集团股份有限公司
- 当前专利权人: 奥比中光科技集团股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦11-13楼
- 代理机构: 深圳新创友知识产权代理有限公司
- 代理商 孟学英
- 主分类号: G01M11/00
- IPC分类号: G01M11/00 ; G01M11/02 ; G01S7/497
摘要:
本发明提供一种基于光学超表面的MEMS微振镜监测装置及方法,装置包括:光源用于发射光信号;MEMS微振镜用于将投射至MEMS微振镜的光信号向被测空间的被测物投射,被测物反射的第一光信号反馈至光束传感器;MEMS微振镜上设置光学超表面,用于将投射至光学超表面的光信号反射的第二光信号反馈至光束传感器;光束传感器用于接收第一光信号和第二光信号;处理器用于提取光束传感器接收的第一光信号计算第一深度信息;提取光束传感器接收的第二光信号计算第二深度信息并根据第二深度信息对第一深度信息进行标定;根据第二光信号出现的时序和规律,监测MEMS微振镜的位置和工作状态。提高了MEMS微振镜的安全性及信号的完整性。
公开/授权文献
- CN111189617A 一种基于光学超表面的MEMS微振镜监测装置及方法 公开/授权日:2020-05-22