- 专利标题: 一种晶粒高定向取向的钌溅射靶材及其制备方法
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申请号: CN202010186065.5申请日: 2020-03-17
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公开(公告)号: CN111270210A公开(公告)日: 2020-06-12
- 发明人: 闻明 , 张仁耀 , 管伟明 , 郭俊梅 , 谭志龙 , 王传军 , 沈月 , 许彦婷 , 毕珺 , 普志辉
- 申请人: 贵研铂业股份有限公司
- 申请人地址: 云南省昆明市五华区高新技术产业开发区科技路988号
- 专利权人: 贵研铂业股份有限公司
- 当前专利权人: 贵研铂业股份有限公司
- 当前专利权人地址: 云南省昆明市五华区高新技术产业开发区科技路988号
- 代理机构: 昆明知道专利事务所
- 代理商 姜开侠; 姜开远
- 主分类号: C23C14/34
- IPC分类号: C23C14/34 ; B22F3/105 ; B22F3/14 ; C23C14/35
摘要:
本发明公开了一种晶粒高定向取向的钌溅射靶材及其制备方法,钌溅射靶材呈现(002)晶面高定向取向,致密度不低于99.5%,晶粒尺寸1-10 μm,氧含量100 ppm以内;所述(002)晶面与(101)晶面积分强度比不低于3。所述制备方法包括以下步骤:选择4N及以上纯度,粒度为1-10 μm的钌粉;随后将粉末进行冷压成型;再将冷压成型的锭坯进行低温微波烧结;再将锭坯进行低温真空热压烧结进一步提高致密度;最后机加工获得靶材。本发明采用较低的烧结温度、低温真空热压技术及充氢气形成还原气氛,使得钌溅射靶材性能优异,高致密度和(002)晶面高定向取向有助于获得高溅射速率、厚度均匀的钌薄膜,制备工艺简便,条件温和易于操控,而且可大大提高生产效率,极大地节约制备成本。
公开/授权文献
- CN111270210B 一种晶粒高定向取向的钌溅射靶材及其制备方法 公开/授权日:2021-11-12
IPC分类: