Invention Grant
CN111272070B 一种结构光参考图采集装置和方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 一种结构光参考图采集装置和方法
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Application No.: CN202010147190.5Application Date: 2020-03-05
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Publication No.: CN111272070BPublication Date: 2021-10-19
- Inventor: 周飞亚 , 李骊
- Applicant: 南京华捷艾米软件科技有限公司 , 北京华捷艾米科技有限公司
- Applicant Address: 江苏省南京市雨花台区软件大道118号新华汇B3栋8楼;
- Assignee: 南京华捷艾米软件科技有限公司,北京华捷艾米科技有限公司
- Current Assignee: 南京华捷艾米软件科技有限公司,北京华捷艾米科技有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省南京市雨花台区软件大道118号新华汇B3栋8楼;
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 王学强
- Main IPC: G01B11/00
- IPC: G01B11/00 ; G01B11/24

Abstract:
本发明公开了一种结构光参考图采集装置和方法,包括投影模组、接收模组和支架,所述支架上设有滑槽,投影模组、接收模组均装配在滑槽上,投影模组和接收模组通过沿滑槽滑动调节二者之间的距离。本发明的投影模组、接收模组可沿滑槽移动,采集参考图时增大/减小基线距离,测量深度时固定基线距离,利用基线距离可调的结构及方法采集多张参考图,并以此构造具有更大视场角的目标参考图,在保证深度精度的前提下,有效消除结构光相机中的深度暗角,增大非参考图距离处的视场角。
Public/Granted literature
- CN111272070A 一种结构光参考图采集装置和方法 Public/Granted day:2020-06-12
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