发明公开
- 专利标题: 一种电子背散射衍射的分析方法
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申请号: CN202010517623.1申请日: 2020-06-09
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公开(公告)号: CN111678932A公开(公告)日: 2020-09-18
- 发明人: 崔桂彬 , 鞠新华 , 杨瑞
- 申请人: 首钢集团有限公司
- 申请人地址: 北京市石景山区石景山路68号
- 专利权人: 首钢集团有限公司
- 当前专利权人: 首钢集团有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市石景山区石景山路68号
- 代理机构: 北京华沛德权律师事务所
- 代理商 房德权
- 主分类号: G01N23/20058
- IPC分类号: G01N23/20058 ; G01N23/203 ; G01N23/2055 ; G01N23/2251 ; G01N33/204
摘要:
本发明公开了一种电子背散射衍射的分析方法:根据预设工艺制备标定样品;根据预设工作参数,在扫描电镜下对标定样品进行电子背散射衍射EBSD分析,确定标定样品的目标晶界;采用第一扫描步长对目标晶界进行线扫描分析,获取在线扫描路径上的全部采样点的菊池花样的花样质量BC值;对所有的BC值进行单峰拟合,获得BC值的单峰拟合曲线;确定单峰拟合曲线的半高宽,将半高宽确定为扫描电镜在预设工作参数下的EBSD分析的空间分辨率;根据空间分辨率,确定对待分析样品进行EBSD分析时的目标分析参数。上述方法能够更加方便、快捷地分析出当前工作参数下EBSD的空间分辨率,基于此提高对待分析样品进行EBSD分析的准确性。
公开/授权文献
- CN111678932B 一种电子背散射衍射的分析方法 公开/授权日:2023-09-15