发明公开
CN111962148A 一种单晶钻石薄膜的制备方法
无效 - 驳回
- 专利标题: 一种单晶钻石薄膜的制备方法
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申请号: CN202010772092.0申请日: 2020-08-04
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公开(公告)号: CN111962148A公开(公告)日: 2020-11-20
- 发明人: 欧欣 , 周李平 , 伊艾伦 , 游天桂
- 申请人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 申请人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
- 当前专利权人地址: 上海市长宁区长宁路865号
- 代理机构: 广州三环专利商标代理有限公司
- 代理商 郝传鑫; 贾允
- 主分类号: C30B25/20
- IPC分类号: C30B25/20 ; C30B25/18 ; C30B29/02 ; C30B33/06 ; C30B33/10 ; C30B33/02 ; C25F3/12 ; C30B29/64
摘要:
本申请提供一种单晶钻石薄膜的制备方法,包括以下步骤:获取钻石衬底和异质衬底;对钻石衬底的表面进行He离子注入,使注入的离子在钻石衬底相应的深度下聚集形成缺陷层,将钻石衬底中缺陷层之上的钻石薄膜作为同质外延的衬底;采用同质外延在钻石薄膜上生长一层单晶钻石薄膜;将单晶钻石薄膜与异质衬底键合,形成键合结构;对键合结构进行湿法腐蚀或电化学腐蚀,将缺陷层去除,使钻石薄膜转移至异质衬底表面;若对键合结构进行电化学腐蚀,则在将外延后的钻石薄膜与异质衬底键合步骤之前,对进行同质外延后的钻石衬底进行高温退火,使缺陷层发生石墨化,形成石墨化的缺陷层;其中,He离子的注入能量和注入剂量根据溶解缺陷层的方法分梯度设定。
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