一种多孔氮化镓单晶电极材料及制备方法与应用

    公开(公告)号:CN117947524A

    公开(公告)日:2024-04-30

    申请号:CN202410193616.9

    申请日:2024-02-21

    申请人: 山东大学

    摘要: 本发明属于半导体器件技术领域,涉及多孔氮化镓单晶电极材料及制备方法与应用。本发明通过将重Si掺杂的氮化镓单晶进行切割、清洗和刻蚀,得到表面均匀分布六方多孔的氮化镓单晶电极材料。所得材料保留了氮化镓单晶的本征稳定性,有利于多孔氮化镓单晶广泛应用于储能系统,特别是应用于高温/高压/化学恶劣的环境中;其多孔结构有效扩大了其比表面积,暴露更多电化学反应位点,继而能够增加超级电容器比容量;材料中的硅原子掺杂能够增加载流子浓度;其中的垂直孔道结构为其在电化学存储过程中电子或者离子的扩散和转移提供了通道,有效提高了反应动力学,使多孔氮化镓单晶作为电极材料展现了优异的倍率性能。

    一种热电器件的n型碲化铋晶片表面粗化的制备方法

    公开(公告)号:CN116583164A

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202310573306.5

    申请日:2023-05-19

    IPC分类号: H10N10/01 H10N10/852 C25F3/12

    摘要: 本发明提供了一种热电器件的n型碲化铋晶片表面粗化的制备方法,本发明采用电解工艺,利用电场驱动钠离子嵌入n型碲化铋晶片中的晶胞的Te‑Te层间,致使晶格坍塌开裂,导致材料局部剥离脱落,从而达到表面粗化的目的;避免了传统喷砂处理对晶片造成的损害,且相比酸腐蚀处理,本发明的n型碲化铋晶片表面粗化处理效率高,适合大规模生产,且电解液对环境及操作人员不会产生伤害;该绿色环保的n型碲化铋晶片表面处理方法提高n型碲化铋晶片的基体的表面粗糙度,增强其与镀层间的结合强度,延长碲化铋型的热电器件的服役寿命。

    芯片背面嵌入式微流体冷却沟道的制备方法及制备装置

    公开(公告)号:CN114150362B

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN202210115945.2

    申请日:2022-02-07

    摘要: 本发明涉及半导体技术领域,具体为一种芯片背面嵌入式微流体冷却沟道的制备方法及制备装置,包括:通过在半导体衬底片的第一表面制备间隔排列的多个掩膜,将生成所述掩膜层的半导体衬底片浸泡入刻蚀液中,基于三电极体系并采用包含小于所述半导体衬底片对应的吸收光波长临界值的入射光照射在所述半导体衬底片的第一表面,从而对所述半导体衬底片的第一表面上未覆盖所述掩膜的半导体暴露部分进行刻蚀,刻蚀完成后得到嵌入式微流体冷却沟道,将包含嵌入式微流体冷却沟道作为冷却剂的流经通道用于对芯片进行降温。本发明能够在半导体衬底片上实现宽度和深度均可控的嵌入式微流体冷却沟道,操作简单,成本低。

    一种电化学刻蚀金刚石半导体薄膜的方法

    公开(公告)号:CN113106531B

    公开(公告)日:2022-04-08

    申请号:CN202110437505.4

    申请日:2021-04-22

    申请人: 厦门大学

    发明人: 时康 冯康康

    IPC分类号: C25F3/12

    摘要: 本发明属于半导体制造技术领域,具体公开了一种电化学刻蚀金刚石半导体薄膜的方法。本发明通过将金刚石半导体薄膜浸入电解液中作为电解池的阴极,另采用惰性电极作为电化学电解池的阳极,在阴阳两极间施加电压15~50V的直流电,在常温常压条件下电解金刚石半导体薄膜,对金刚石薄膜表面进行刻蚀,实现对金刚石半导体薄膜的减材加工。本发明从减材加工原理上创新,提出了一种只需采用简单的设备在常温常压下仅一步就可刻蚀金刚石半导体薄膜的新方法,具有较大的经济意义和推广价值。

    芯片背面嵌入式微流体冷却沟道的制备方法及制备装置

    公开(公告)号:CN114150362A

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN202210115945.2

    申请日:2022-02-07

    摘要: 本发明涉及半导体技术领域,具体为一种芯片背面嵌入式微流体冷却沟道的制备方法及制备装置,包括:通过在半导体衬底片的第一表面制备间隔排列的多个掩膜,将生成所述掩膜层的半导体衬底片浸泡入刻蚀液中,基于三电极体系并采用包含小于所述半导体衬底片对应的吸收光波长临界值的入射光照射在所述半导体衬底片的第一表面,从而对所述半导体衬底片的第一表面上未覆盖所述掩膜的半导体暴露部分进行刻蚀,刻蚀完成后得到嵌入式微流体冷却沟道,将包含嵌入式微流体冷却沟道作为冷却剂的流经通道用于对芯片进行降温。本发明能够在半导体衬底片上实现宽度和深度均可控的嵌入式微流体冷却沟道,操作简单,成本低。

    一种单晶钻石薄膜的制备方法

    公开(公告)号:CN111962148A

    公开(公告)日:2020-11-20

    申请号:CN202010772092.0

    申请日:2020-08-04

    摘要: 本申请提供一种单晶钻石薄膜的制备方法,包括以下步骤:获取钻石衬底和异质衬底;对钻石衬底的表面进行He离子注入,使注入的离子在钻石衬底相应的深度下聚集形成缺陷层,将钻石衬底中缺陷层之上的钻石薄膜作为同质外延的衬底;采用同质外延在钻石薄膜上生长一层单晶钻石薄膜;将单晶钻石薄膜与异质衬底键合,形成键合结构;对键合结构进行湿法腐蚀或电化学腐蚀,将缺陷层去除,使钻石薄膜转移至异质衬底表面;若对键合结构进行电化学腐蚀,则在将外延后的钻石薄膜与异质衬底键合步骤之前,对进行同质外延后的钻石衬底进行高温退火,使缺陷层发生石墨化,形成石墨化的缺陷层;其中,He离子的注入能量和注入剂量根据溶解缺陷层的方法分梯度设定。

    一种硅基纳米多孔硅单凸透镜的制备方法

    公开(公告)号:CN109137059B

    公开(公告)日:2020-10-20

    申请号:CN201811186718.9

    申请日:2018-10-12

    发明人: 龙永福

    IPC分类号: C25F3/12 G02B3/00

    摘要: 本发明公开了一种硅基纳米多孔硅单凸透镜的制备方法,该方法是将常规双槽腐蚀时使用两个圆形平板薄铂片作为电极,且在两个平行电极之间放置硅片,硅片轴线、两个圆形平板薄铂片轴线三者重合,硅片离左、右两个电极的距离相等,硅片将腐蚀液分隔成两个独立的部分;采用恒流源对硅片进行电化学腐蚀形成圆柱形多孔硅薄膜;然后将硅基圆柱形的多孔硅膜浸入氢氧化钠溶液中,并以圆柱形的多孔硅薄膜的中心轴为自旋转轴旋转圆柱形多孔硅,导致在多孔硅圆柱表面形成由多孔硅材料构成的单面凸透镜。通过本发明的方法,能获得纳米多孔硅单面凸透镜,能广泛应用于微机电系统,为微机光电系统领域作出了重大的贡献。