Invention Publication
- Patent Title: 光学测距装置及其方法
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Application No.: CN201980037240.XApplication Date: 2019-05-31
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Publication No.: CN112219131APublication Date: 2021-01-12
- Inventor: 林内政人 , 高井勇
- Applicant: 株式会社电装
- Applicant Address: 日本爱知县
- Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee: 株式会社电装
- Current Assignee Address: 日本爱知县
- Agency: 北京集佳知识产权代理有限公司
- Agent 周宏志; 张青
- Priority: 2018-108321 2018.06.06 JP
- International Application: PCT/JP2019/021710 2019.05.31
- International Announcement: WO2019/235376 JA 2019.12.12
- Date entered country: 2020-12-03
- Main IPC: G01S7/497
- IPC: G01S7/497 ; G01S17/89 ; G01S17/10 ; G01S17/931

Abstract:
本发明提供一种光学测距装置及其方法。在规定的时机驱动光源,并使来自光源(35)的光向空间的规定范围进行照射,通过受光元件(50)检测与照射的光对应的反射光。SPAD运算部(100)对与该反射光对应的检测信号进行处理,并提取与来自对象的反射光对应的峰值信号。此时,根据从照射部(30)进行的光源(35)的驱动到峰值信号的输出为止的时间,测定直到对象的距离。此时,根据峰值信号的状态,变更直到对象为止的距离测定的性能。由此,光学检测直到对象为止的距离时的灵敏度变得适当。
Public/Granted literature
- CN112219131B 光学测距装置及其方法 Public/Granted day:2024-07-26
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