测距装置以及测距装置中的异常判定方法

    公开(公告)号:CN113678021A

    公开(公告)日:2021-11-19

    申请号:CN202080022913.7

    申请日:2020-02-05

    Abstract: 测距装置100具备:受光部30,具有用于接受入射光的多个受光区域,以各受光区域为单位来执行入射光的受光;以及发光部20,与各受光区域对应地排他地执行检测光的照射。测距装置100还具备异常判定部10,在根据检测光的照射而由受光部接受入射光时,该异常判定部10根据多个受光区域中的、与排他性的检测光的照射对应的受光对象区域中的入射光强度的特性和与排他性的检测光的照射不对应的受光非对象区域中的入射光强度的特性之间的不同,进行测距装置中的异常判定。

    光学测距装置及其方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112219131A

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN201980037240.X

    申请日:2019-05-31

    Abstract: 本发明提供一种光学测距装置及其方法。在规定的时机驱动光源,并使来自光源(35)的光向空间的规定范围进行照射,通过受光元件(50)检测与照射的光对应的反射光。SPAD运算部(100)对与该反射光对应的检测信号进行处理,并提取与来自对象的反射光对应的峰值信号。此时,根据从照射部(30)进行的光源(35)的驱动到峰值信号的输出为止的时间,测定直到对象的距离。此时,根据峰值信号的状态,变更直到对象为止的距离测定的性能。由此,光学检测直到对象为止的距离时的灵敏度变得适当。

    测距装置以及测距装置中的异常判定方法

    公开(公告)号:CN113678021B

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202080022913.7

    申请日:2020-02-05

    Abstract: 测距装置(100)具备:受光部(30),具有用于接受入射光的多个受光区域,以各受光区域为单位来执行入射光的受光;以及发光部(20),与各受光区域对应地排他地执行检测光的照射。测距装置(100)还具备异常判定部(10),在根据检测光的照射而由受光部接受入射光时,该异常判定部(10)根据多个受光区域中的、与排他性的检测光的照射对应的受光对象区域中的入射光强度的特性和与排他性的检测光的照射不对应的受光非对象区域中的入射光强度的特性之间的不同,进行测距装置中的异常判定。

    光学测距装置及其方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112219131B

    公开(公告)日:2024-07-26

    申请号:CN201980037240.X

    申请日:2019-05-31

    Abstract: 本发明提供一种光学测距装置及其方法。在规定的时机驱动光源,并使来自光源(35)的光向空间的规定范围进行照射,通过受光元件(50)检测与照射的光对应的反射光。SPAD运算部(100)对与该反射光对应的检测信号进行处理,并提取与来自对象的反射光对应的峰值信号。此时,根据从照射部(30)进行的光源(35)的驱动到峰值信号的输出为止的时间,测定直到对象的距离。此时,根据峰值信号的状态,变更直到对象为止的距离测定的性能。由此,光学检测直到对象为止的距离时的灵敏度变得适当。

    光学测距装置
    5.
    发明公开
    光学测距装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116457689A

    公开(公告)日:2023-07-18

    申请号:CN202180077391.5

    申请日:2021-10-14

    Abstract: 光学测距装置(10、11)具备:发光部(21);反射镜(26),其反射发光部所发出的照射光(IL);扫描仪(28),其使反射镜往复动作而利用照射光扫描预先设定的扫描范围内;光接收部(30),其检测照射光向存在于扫描范围的物标反射并返回的反射光(RL);距离计算部(40),其在反射镜的往程运动动作的期间中,使用从发光部发出照射光到光接收部检测出来自物标的反射光为止的时间来计算到物标为止的距离;定时信号生成部(60),其根据来自外部的信号而生成定时信号;以及控制部(50),其为控制发光部的发光和扫描仪的动作的控制部(50、51),通过维持往程运动动作的测距期间不变地调整扫描仪的一周期的时间,使扫描仪的动作与定时信号同步。

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