发明公开
CN112466901A 半导体元件及其制作方法
审中-公开
- 专利标题: 半导体元件及其制作方法
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申请号: CN201910841032.7申请日: 2019-09-06
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公开(公告)号: CN112466901A公开(公告)日: 2021-03-09
- 发明人: 王慧琳 , 许博凯 , 翁宸毅 , 张境尹 , 王裕平 , 陈宏岳
- 申请人: 联华电子股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹市
- 专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人: 联华电子股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹市
- 代理机构: 北京市柳沈律师事务所
- 代理商 陈小雯
- 主分类号: H01L27/22
- IPC分类号: H01L27/22
摘要:
本发明公开一种半导体元件及其制作方法,其中该制作半导体元件的方法为,首先提供一基底包含一磁性隧穿结(magnetic tunneling junction,MTJ)区域以及一逻辑区域,然后形成一MTJ于MTJ区域上,形成一上电极于MTJ上,形成一金属间介电层环绕MTJ,去除上电极正上方的金属间介电层以形成一凹槽,形成一第一硬掩模于金属间介电层上并填入凹槽内,去除逻辑区域的第一硬掩模以及金属间介电层以形成一接触洞,再形成一金属层于凹槽及接触洞内以于上电极上方形成一连接结构以及于逻辑区域形成一金属内连线。
IPC分类: