摘要:
本发明公开了一种模拟电路的剩余使用寿命预测方法及系统,属于模拟电路寿命预测领域。搭建模拟电路的仿真模型,并选择输出电压为退化变量;设置不同退化周期,提取输出电压的退化特征;优选出能够反映模拟电路器件退化趋势的关键特征;采用多特征融合和相似度模型来构建健康指数曲线,表征不同器件的全寿命周期的退化过程;建立基于时间卷积网络与注意力机制的预测模型,将优选的特征和构建好的健康指标数据库作为TCN‑Attention网络的输入,预测模拟电路器件的剩余使用寿命。通过对一个模拟电路的实例分析,验证本发明提出的剩余使用寿命预测框架的有效性,并可扩展应用到其他模拟电路的剩余使用寿命预测上。
公开/授权文献
- CN112685961B 一种模拟电路的剩余使用寿命预测方法及系统 公开/授权日:2022-06-21