发明授权
- 专利标题: 有源超表面强辐照场性能测试装置及系统
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申请号: CN202110315712.2申请日: 2021-03-24
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公开(公告)号: CN113063994B公开(公告)日: 2022-06-14
- 发明人: 张继宏 , 李杨飞 , 林铭团 , 徐明 , 毋召锋 , 刘培国 , 刘继斌
- 申请人: 中国人民解放军国防科技大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- 专利权人: 中国人民解放军国防科技大学
- 当前专利权人: 中国人民解放军国防科技大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市开福区德雅路109号
- 代理机构: 长沙国科天河知识产权代理有限公司
- 代理商 周达
- 主分类号: G01R29/08
- IPC分类号: G01R29/08
摘要:
有源超表面强辐照场性能测试装置及系统,包括标准波导、第一、二高抗阻表面以及第一、二波导同轴转换装置,第一波导同轴转换装置的SMA连接器连接衰减器输入端,衰减器的输出端连接矢量网络分析仪输入端,矢量网络分析仪输出端连接功率放大器输入端,功率放大器输出端连接第二波导同轴转换装置的SMA连接器,将待测试的有源超表面样品通过第一法兰盘夹紧,通过第一、二高阻抗表面在标准波导内部形成均匀平面波辐照场;通过功率放大器放大输入信号,在标准波导内部形成高功率的均匀的准TEM辐照场,通过矢量网络分析仪对样品进行性能测试。本发明能够同时提供均匀平面波和高功率辐照场,同时测试操作简单,成本低廉。
公开/授权文献
- CN113063994A 有源超表面强辐照场性能测试装置及系统 公开/授权日:2021-07-02