- 专利标题: 一种射频微波大功率器件测试系统及测试方法
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申请号: CN202110287386.9申请日: 2021-03-17
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公开(公告)号: CN113092976B公开(公告)日: 2024-06-25
- 发明人: 丁旭 , 王立平 , 晏殊 , 汪家乐
- 申请人: 浙江铖昌科技股份有限公司
- 申请人地址: 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢601室
- 专利权人: 浙江铖昌科技股份有限公司
- 当前专利权人: 浙江铖昌科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市西湖区三墩镇西园三路3号5幢601室
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 徐秋平
- 主分类号: G01R31/26
- IPC分类号: G01R31/26
摘要:
本发明提供一种射频微波大功率器件测试系统及测试方法,包括:脉冲发生器,用于产生周期性脉冲;微波信号源,用于根据所述周期性脉冲生成射频激励信号,并输入射频微波大功率器件;直流稳压电源,用于提供恒定直流信号;脉冲调制器,用于根据周期性脉冲将恒定直流信号调制为直流脉冲信号,并将直流脉冲信号输入射频微波大功率器件;霍尔电流探头,用于采集射频微波大功率器件上的直流电流并转换为直流电压;高精度数字万用表,用于根据周期性脉冲测量所述直流电压。本发明的射频微波大功率器件测试系统及测试方法通过高精度数字万用表和霍尔电流探头实现射频微波大功率器件的直流测试,准确、成本低。
公开/授权文献
- CN113092976A 一种射频微波大功率器件测试系统及测试方法 公开/授权日:2021-07-09