Invention Grant
- Patent Title: 一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统
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Application No.: CN202110308368.4Application Date: 2021-03-23
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Publication No.: CN113156295BPublication Date: 2024-03-19
- Inventor: 曹永峰 , 翟峰 , 赵兵 , 许海清 , 赵东艳 , 梁晓兵 , 原义栋 , 付义伦 , 王楠 , 李保丰 , 许斌 , 孔令达 , 徐萌 , 李奇 , 董之微 , 朱钰 , 于同伟 , 卢岩 , 刘鹰 , 冯云 , 岑炜 , 张庚 , 袁泉 , 冯占成 , 任博 , 周琪 , 卢艳 , 韩文博 , 郑旖旎
- Applicant: 中国电力科学研究院有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院 , 北京智芯微电子科技有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ; ;
- Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,北京智芯微电子科技有限公司
- Current Assignee: 中国电力科学研究院有限公司,国家电网有限公司,国网辽宁省电力有限公司电力科学研究院,北京智芯微电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区清河小营东路15号; ; ;
- Agency: 北京工信联合知识产权代理有限公司
- Agent 夏德政
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28

Abstract:
本发明公开了一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统,属于电网用电信息采集技术领域。本发明方法,包括:设置电力芯片内置的多种算法的权重,并根据权重确定每种算法的权重比例;针对待测的电力芯片,发送多组测试数据,并记录发送测试数据的时间,及接收反馈数据的时间;根据发送测试数据的时间及接收反馈数据的时间,确定每组测试数据的响应时间;根据每组测试数据的响应时间及权重比例,确定电力芯片的响应时间。本发明为芯片在具体设备中的应用提供了关键技术指标,为芯片生产及场景应用提供技术指导,有效的促进芯片产业链的应用对接。
Public/Granted literature
- CN113156295A 一种适用于电力安全芯片响应时间的测试方法及系统 Public/Granted day:2021-07-23
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