Invention Grant
- Patent Title: 系统响应的实时检测及校正
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Application No.: CN201980079627.1Application Date: 2019-12-12
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Publication No.: CN113169012BPublication Date: 2022-12-16
- Inventor: H·施托舒斯 , S·艾林 , C·西尔斯
- Applicant: 科磊股份有限公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 科磊股份有限公司
- Current Assignee: 科磊股份有限公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- Agent 刘丽楠
- Priority: 62/779,485 20181214 US 62/781,412 20181218 US 62/785,164 20181226 US 16/691,847 20191122 US
- International Application: PCT/US2019/065829 2019.12.12
- International Announcement: WO2020/123729 EN 2020.06.18
- Date entered country: 2021-06-02
- Main IPC: H01J37/153
- IPC: H01J37/153 ; H01J37/244
Abstract:
本发明实施例可包含用于校正电子束工具的响应函数的方法、系统及设备。所述校正可包含:调制具有频率的电子束参数;基于所述电子束参数朝向样本发射电子束,由此将电子散射,其中所述电子束由具有源相位及着陆角度的源波函数描述;在电子检测器处检测所述经散射电子的一部分,由此产生包含具有电子相位及电子着陆角度的电子波函数的电子数据;使用处理器来确定所述源相位与所述电子相位之间的相位延迟,由此产生等待时间;及使用所述处理器,使用所述等待时间及所述源波函数与所述电子波函数之间的差来校正所述电子束工具的所述响应函数。
Public/Granted literature
- CN113169012A 系统响应的实时检测及校正 Public/Granted day:2021-07-23
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