Invention Grant
- Patent Title: 一种多仪器组合测量系统的校准方法
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Application No.: CN202110576171.9Application Date: 2021-05-26
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Publication No.: CN113310445BPublication Date: 2023-06-06
- Inventor: 任瑜 , 张丰 , 刘芳芳 , 宋增超 , 胡晓磊 , 傅云霞
- Applicant: 上海市计量测试技术研究院
- Applicant Address: 上海市静安区长乐路1226号
- Assignee: 上海市计量测试技术研究院
- Current Assignee: 上海市计量测试技术研究院
- Current Assignee Address: 上海市静安区长乐路1226号
- Agency: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
- Agent 王一琦
- Main IPC: G01B21/00
- IPC: G01B21/00 ; G01B21/02

Abstract:
本发明涉及一种多仪器组合测量系统的校准方法,采用多齿分度台作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系旋转误差;采用带有激光干涉仪的直线导轨作为标准器校准多仪器组合测量系统的坐标系平移误差;采用长度标尺作为标准器校准多仪器组合测量系统的公共测量点和非公共测量点的空间距离长度误差。本发明弥补了现有单台测量仪器的校准方法不能直接应用于多仪器组合测量系统的校准的问题,保障了多仪器组合测量系统的量值统一、准确可靠,助力多仪器组合测量系统的研发升级和现场应用。
Public/Granted literature
- CN113310445A 一种多仪器组合测量系统的校准方法 Public/Granted day:2021-08-27
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