本发明涉及超声波测厚技术领域，具体涉及一种多探头超声波测厚装置。该多探头超声波测厚装置包括：夹持件、扫描机构、控制分析机构和至少两个超声波探头。其中，至少两个超声波探头间隔设定距离设置在夹持件上，用于探测待检测工件。扫描机构与夹持件连接，用于驱动夹持件在一平面内移动；控制分析机构与扫描机构和超声波探头信号连接，用于控制扫描机构，以及记录扫描机构的扫描路径信息和超声波探头的检测信息。能够解决现有检测系统只使用了一个超声波探头，每次只能完成一个区域的检测扫描，导致效率低下的问题。