发明公开
- 专利标题: 反应腔室及半导体工艺设备
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申请号: CN202110830608.7申请日: 2021-07-22
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公开(公告)号: CN113604795A公开(公告)日: 2021-11-05
- 发明人: 李世凯 , 董博宇 , 袁福顺 , 王磊磊 , 李晓军 , 赵东华 , 刘广政 , 徐柯柯 , 刘晶晶 , 孙小芹 , 宫兆辉 , 贾万泳 , 许利飞 , 董学 , 王铁然
- 申请人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 申请人地址: 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号
- 专利权人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 当前专利权人: 北京北方华创微电子装备有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市北京经济技术开发区文昌大道8号
- 代理机构: 北京天昊联合知识产权代理有限公司
- 代理商 彭瑞欣; 王婷
- 主分类号: C23C16/44
- IPC分类号: C23C16/44 ; C23C16/46 ; C30B25/08 ; C30B25/10
摘要:
本发明提供一种反应腔室及半导体工艺设备,该反应腔室包括隔热腔体、第一加热体、第二加热体和隔离防护结构,第一加热体和第二加热体间隔设置在隔热腔体中,第二加热体上设置有用于承载晶圆的承载装置;隔离防护结构设置在隔热腔体中,且位于第一加热体和第二加热体之间,围成一反应空间,并将第一加热体和第二加热体与反应空间隔离开,隔离防护结构靠近第二加热体一侧设置有开口,承载装置的承载面暴露在反应空间中;隔热腔体的两侧侧壁上分别设置有进气口和出气口,进气口和出气口与反应空间相连通。本发明提供的反应腔室及半导体工艺设备的技术方案,可以减少加热体上附着的反应副产物,从而可以提高设备维护效率,降低设备维护成本。
公开/授权文献
- CN113604795B 反应腔室及半导体工艺设备 公开/授权日:2023-02-14
IPC分类: