- 专利标题: 一种大豆品质多参数的快速无损检测方法和装置
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申请号: CN202110943917.5申请日: 2021-08-17
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公开(公告)号: CN113640229B公开(公告)日: 2022-09-06
- 发明人: 付丹丹 , 周建锋 , 周晶
- 申请人: 武汉轻工大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市东西湖区常青花园学府南路68号
- 专利权人: 武汉轻工大学
- 当前专利权人: 武汉轻工大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东西湖区常青花园学府南路68号
- 代理机构: 武汉星泽知识产权代理事务所
- 代理商 王淳景
- 主分类号: G01N21/25
- IPC分类号: G01N21/25 ; G06V10/26 ; G06V10/774
摘要:
本发明提供一种大豆品质多参数的快速无损检测方法和装置,该方法包括:获取检测样品在不同波段下的二维灰度图像,将所有不同波段下的二维灰度图像合成三维高光谱图像;对三维高光谱图像按每粒大豆进行分割,确定每粒大豆的高光谱图像数据;从高光谱图像数据中提取出每粒大豆的光谱数据,将光谱数据经预处理和特征波段筛选后,分别输入预测模型,根据所述预测模型的输出结果确定每粒大豆的多个品质参数值。该方法无需破坏大豆种子本身,能同时对多个品种的检测样品提取光谱图像,实现对多个品种样品的多个品质同时检测;将所有波段下的二维灰度图像合成三维高光谱图像后,提取了多个特征波段的信息,可实现多品种多参数的高准确率检测。
公开/授权文献
- CN113640229A 一种大豆品质多参数的快速无损检测方法和装置 公开/授权日:2021-11-12