一种高精度回转体的测量装置和测量方法
摘要:
本发明提供一种高精度回转体测量装置和测量方法,通过扫描装置扫描固定于定位组件上的回转体,实现对回转体尺寸的检测,包括长度以及宽度;通过设置扫描装置根据变速扫描轨迹进行变速扫描,相比传统的扫描,在保证精度的情况下,减少扫描产生的数据,提高扫描效率。
公开/授权文献
0/0