发明授权
- 专利标题: 一种全包围栅器件及其制作方法
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申请号: CN202210328549.8申请日: 2022-03-31
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公开(公告)号: CN114420566B公开(公告)日: 2022-05-31
- 发明人: 郭伟
- 申请人: 广州粤芯半导体技术有限公司
- 申请人地址: 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号
- 专利权人: 广州粤芯半导体技术有限公司
- 当前专利权人: 粤芯半导体技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 510700 广东省广州市黄埔区凤凰五路28号
- 代理机构: 上海光华专利事务所
- 代理商 刘星
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L29/78 ; H01L29/06 ; H01L29/423
摘要:
本发明提供一种全包围栅器件及其制作方法,该方法包括以下步骤:形成绝缘层于衬底上;形成第一栅极层于绝缘层上;形成多个沟槽;形成第一栅介质层于第一栅极层的上表面及沟槽的侧壁与底壁;形成源极层于第一栅介质层上;去除源极层位于沟槽所在区域以外的部分;形成第二栅介质层于源极层的显露表面,第二、第一栅介质层相接以共同包裹源极层;去除第一栅极层上表面的第一栅介质层;形成第二栅极层于第一栅极层上,第二栅极层与第一栅极层相接以共同包裹栅介质层及源极层;形成隔离槽。本发明得到一种绝缘埋层上的栅极全包围源极的器件结构,可以提供更高速、高效的操作性能和更低的功耗,兼具FD‑SOI和GAA的双重优势,且降低了制作成本。
公开/授权文献
- CN114420566A 一种全包围栅器件及其制作方法 公开/授权日:2022-04-29
IPC分类: