Invention Grant
- Patent Title: 一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法
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Application No.: CN202210043180.6Application Date: 2022-01-14
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Publication No.: CN114441872BPublication Date: 2023-03-10
- Inventor: 王东阳 , 杨佳伟 , 林智聪 , 俞剑飞
- Applicant: 西南交通大学
- Applicant Address: 四川省成都市西南交通大学
- Assignee: 西南交通大学
- Current Assignee: 西南交通大学
- Current Assignee Address: 四川省成都市西南交通大学
- Agency: 武汉聚信汇智知识产权代理有限公司
- Agent 马尚伟
- Main IPC: G01R29/22
- IPC: G01R29/22

Abstract:
一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法,该评估方法的流程图如图2所示。其评估步骤为:通过冲击发生器对ZnO压敏电阻进行冲击,通过记录冲击次数和测得的冲击后的温度值得到ZnO压敏电阻在不同冲击次数和温度下的工作电流因子,最终结合工作电流因子和工作电压因子得到ZnO压敏电阻的老化状态评估因子,根据计算得出的ZnO压敏电阻的老化状态评估因子判断ZnO压敏电阻的老化状态。本发明的有益效果在于提供了一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法,并搭建了试验平台,且主要实现方法就是考虑ZnO压敏电阻的老化状态评估因子,对电力通信系统的稳定运行具有重要意义。
Public/Granted literature
- CN114441872A 一种基于温度影响下的ZnO压敏电阻老化状态的评估方法 Public/Granted day:2022-05-06
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