发明公开
CN114464621A 半导体器件
审中-实审
- 专利标题: 半导体器件
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申请号: CN202111305601.X申请日: 2021-11-05
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公开(公告)号: CN114464621A公开(公告)日: 2022-05-10
- 发明人: 李埈圭 , 安志荣 , 金铉用 , 具滋玟 , 安容奭 , 严敏燮 , 李相昊 , 崔允荣
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 优先权: 10-2020-0148747 20201109 KR
- 主分类号: H01L27/108
- IPC分类号: H01L27/108 ; H01L21/8242
摘要:
一种半导体器件,包括在衬底上的有源图案、掩埋在有源图案的上部处的栅极结构、在有源图案上的位线结构、覆盖位线结构的下侧壁的下间隔物结构、在有源图案上且与位线结构相邻的接触插塞结构、以及在接触插塞结构上的电容器。下间隔物结构包括从位线结构的下侧壁在基本平行于衬底的上表面的水平方向上顺序堆叠的第一和第二下间隔物,第一下间隔物包括氧化物,并接触位线结构的下侧壁,但不接触接触插塞结构,并且第二下间隔物包括与第一下间隔物的任何材料不同的材料。
IPC分类: