发明公开
- 专利标题: 基于遮挡情况下带圆形工件的位姿检测方法
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申请号: CN202210088425.7申请日: 2022-01-25
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公开(公告)号: CN114549639A公开(公告)日: 2022-05-27
- 发明人: 姚碧涛 , 徐文君 , 别浩东 , 纪圳睿
- 申请人: 武汉理工大学
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人: 武汉理工大学
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
- 代理机构: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司
- 代理商 刘秋芳
- 主分类号: G06T7/73
- IPC分类号: G06T7/73 ; G06T5/00 ; G06K9/62 ; G06V10/762 ; G06V10/82
摘要:
本发明公开了一种基于遮挡情况下带圆形工件的位姿检测方法,包括以下步骤:通过采取多种工件在不同遮挡情况下的照片来训练SN‑PatchGAN网络,用于修复带圆形工件的遮挡区域;通过GAN支持的椭圆检测方法检测遮挡情况下带圆形工件图像上的椭圆,并输出椭圆5D参数;结合摄像机内部参数以及椭圆5D参数,根据圆形特征位姿估计模型得到带圆形工件的位姿参数。本发明提出的基于遮挡情况下带圆形工件的位姿检测方法,可以有效解决圆形物体存在遮挡情况下的椭圆检测率,进而可以有效检测到圆形物体的位姿,其检测准确率高。