发明授权
- 专利标题: 厚度测量方法,装置,电子设备及存储介质
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申请号: CN202011414592.3申请日: 2020-12-07
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公开(公告)号: CN114593681B公开(公告)日: 2024-10-18
- 发明人: 赵勇 , 杨宁华 , 林昌伟 , 朱立发
- 申请人: 北京格灵深瞳信息技术有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区永泰庄北路1号天地邻枫产业园1号楼B座
- 专利权人: 北京格灵深瞳信息技术有限公司
- 当前专利权人: 北京格灵深瞳信息技术有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区永泰庄北路1号天地邻枫产业园1号楼B座
- 代理机构: 北京新知远方知识产权代理事务所
- 代理商 马军芳; 张艳
- 主分类号: G01B11/06
- IPC分类号: G01B11/06 ; G06T7/11 ; G06T7/60
摘要:
本申请实施例中提供了一种厚度测量方法,装置,电子设备及存储介质,该方法包括:获取当前待测量物体和目标物体的二维图像以及深度图;获取包括所述待测量物体和目标物体的标准点云;将所述标准点云与当前点云进行配准,得到目标平面方程;利用所述二维图像以及深度图定位所述当前点云中的所述待测量物体,并结合所述目标平面方程,得到所述第一平面和第二平面的平面方程;根据所述平面方程计算所述待测量物体的厚度。结合二维图像和深度图定位待测量物体,通过配准得到目标平面方程,以获取待测量物体的两个平行面对应的平面方程,可以精准定位所述待测量物体,从而可以准确的计算出待测量物体的厚度。
公开/授权文献
- CN114593681A 厚度测量方法,装置,电子设备及存储介质 公开/授权日:2022-06-07