本发明公开了一种用于测试MCU静电放电防护性能的电路及方法，该电路通过在MCU的外围电路中加入ESD干扰信号源，并接入待测试的MCU；然后利用直流电压信号驱动待测试MCU产生无ESD干扰信号的输出波形；获取ESD干扰信号源的参数，并得到ESD干扰信号；将直流电压信号和ESD干扰信号进行共同作用于待测试的MCU，得到有ESD干扰信号的输出波形；将无ESD干扰信号的输出波形和有ESD干扰信号的输出波形进行对比分析，以完成待测试MCU的静电放电防护性能测试评估。本发明提供的测试MCU静电放电防护性能的电路，克服了现有技术中在MCU启动后外围电路无法测试MCU在启动后的ESD干扰的问题，可用于对具有稳定静电放电防护性能的MCU的测试筛选，从而提高集成电路的稳定性。