发明公开
CN114914190A 半导体结构及其制造方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 半导体结构及其制造方法
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申请号: CN202210059505.X申请日: 2022-01-19
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公开(公告)号: CN114914190A公开(公告)日: 2022-08-16
- 发明人: 吴咏捷 , 何彦忠 , 魏惠娴 , 游嘉榕 , 许秉诚 , 杨丰诚 , 林仲德
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号(邮递区号30078)
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹科学工业园区新竹市力行六路八号(邮递区号30078)
- 代理机构: 北京派特恩知识产权代理有限公司
- 代理商 康艳青; 王琳
- 优先权: 63/178,048 20210422 US 17/523,111 20211110 US
- 主分类号: H01L21/74
- IPC分类号: H01L21/74
摘要:
本公开实施例提供一种半导体结构及其制造方法,所述方法包括:在衬底之上形成第一导电图案,其中第一导电图案包括第一导电线和第二导电线。可在第一导电图案的第一导电线和第二导电线之上共形的形成阻障层。可在阻障层之上形成绝缘层。可将绝缘层图案化以在第一导电图案的导电线之间形成开口,可在开口中形成第二导电图案。第二导电图案可包括通过阻障层与第一导电图案物理分离的第三导电线。阻障层的存在降低了在第一导电图案和第二导电图案之间形成短路的风险。在这个意义上,第二导电图案可相对于第一导电图案自对准。
IPC分类: