发明授权
- 专利标题: 一种用于发光二极管晶片的检测装置
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申请号: CN202210491579.0申请日: 2022-05-07
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公开(公告)号: CN114923448B公开(公告)日: 2023-11-14
- 发明人: 林俊 , 高定健
- 申请人: 扬州虹扬科技发展有限公司
- 申请人地址: 江苏省扬州市邗江区北山工业园潍柴大道5号
- 专利权人: 扬州虹扬科技发展有限公司
- 当前专利权人: 扬州虹扬科技发展有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省扬州市邗江区北山工业园潍柴大道5号
- 代理机构: 北京连和连知识产权代理有限公司
- 代理商 田方正
- 主分类号: G01B21/08
- IPC分类号: G01B21/08 ; B25B11/00
摘要:
本发明公开了一种用于发光二极管晶片的检测装置,检测台,为内部中空结构且用于为待检测的发光二极管晶片提供支撑平台;预定位组件,设置在检测台的内部且用于对发光二极管晶片进行同心预夹持;柔性定位组件,设置在检测台的内部且用于对发光二极管晶片采用柔性的方式进行同心定位夹持;主驱动组件。本发明通过空气向橡胶条和气囊包组成的空腔,使得气囊包内部气压增大并发生膨胀,从而使得气囊包膨胀并带动橡胶条向检测台中部的弯曲,进而使得橡胶条弯曲并以柔性的方式带动发光二极管晶片移动至检测台顶部的中心位置,从而实现可对发光二极管晶片自动定位同时避免将其挤压损坏的情况发生。
公开/授权文献
- CN114923448A 一种用于发光二极管晶片的检测装置 公开/授权日:2022-08-19