发明公开
- 专利标题: 一种MRAM存储器的刻蚀装置
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申请号: CN202210959093.5申请日: 2022-08-10
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公开(公告)号: CN115274394A公开(公告)日: 2022-11-01
- 发明人: 张丛 , 曹凯华 , 刘宏喜 , 王嘉毅 , 王戈飞
- 申请人: 致真存储(北京)科技有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区知春路6号(锦秋国际大厦)10层A03
- 专利权人: 致真存储(北京)科技有限公司
- 当前专利权人: 致真存储(北京)科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区知春路6号(锦秋国际大厦)10层A03
- 代理机构: 北京墨丘知识产权代理事务所
- 代理商 唐忠仙
- 主分类号: H01J37/32
- IPC分类号: H01J37/32 ; H01L27/22
摘要:
本申请实施例公开了一种MRAM存储器的刻蚀装置,包括:离子源、中和器、载台,其中:中和器设置在所述离子源的出射口,所述载台设置在所述离子源出射的一侧,用于接收所述离子源出射的等离子体;所述载台的入射面端面之上包括:压环、至少一个电极,所述压环和所述至少一个电极均设置在所述载台的边缘,所述至少一个电极埋入所述压环内部或者所述压环外围;所述至少一个电极通过电线与射频发生器连接。通过在IBE刻蚀腔内调节载台角度,能够在同一腔室完成MRAM存储单元的刻蚀和侧壁清洗,便于进行多次切换。通过在载台边缘处埋入至少一个电极,并对至少一个电极分别施加功率控制,从而分区调节载台上的等离子体分布,提高刻蚀均匀性。