发明公开
- 专利标题: 一种相控阵多维高效率远场校准测试方法
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申请号: CN202210961637.1申请日: 2022-08-11
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公开(公告)号: CN115327495A公开(公告)日: 2022-11-11
- 发明人: 杨海宁 , 蔡银基 , 李廷军 , 徐潜 , 李阿雅 , 李娜 , 程钰间
- 申请人: 电子科技大学
- 申请人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人: 电子科技大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号
- 代理机构: 成都虹盛汇泉专利代理有限公司
- 代理商 王伟
- 主分类号: G01S7/40
- IPC分类号: G01S7/40
摘要:
本发明公开了一种相控阵多维高效率远场校准测试方法,发射通道校准包括:S1、初始化m=1;S2、将测试天线放置到测试角度βm上;S3、打开通道1,测量远场辐射功率;S4、初始化n=2;S5、校准通道n;S6、n=n+1,若n≤N则返回S5;S7、对相控阵天线的各通道进行校准;S8、m=m+1,若m≤M则返回S2,否则结束校准。接收通道校准包括:S9、打开通道1,测量采样信号幅度的最大值;S10、初始化n=2;S11、校准通道n;S12、n=n+1,若n≤N则返回S11;S13、对相控阵天线的接收通道进行校准。本发明实现了相控阵天线校准过程的自动化,减小了人员操作的难度以及操作误差,提高了测试精度和测试效率。
公开/授权文献
- CN115327495B 一种相控阵多维高效率远场校准测试方法 公开/授权日:2024-09-27