发明公开
- 专利标题: 一种复合绝缘膜的制作方法
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申请号: CN202211114315.X申请日: 2022-09-14
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公开(公告)号: CN115377248A公开(公告)日: 2022-11-22
- 发明人: 余黎明 , 刘巍 , 金灿 , 刘应军
- 申请人: 武汉敏芯半导体股份有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区滨湖路8号F2栋
- 专利权人: 武汉敏芯半导体股份有限公司
- 当前专利权人: 武汉敏芯半导体股份有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市东湖新技术开发区滨湖路8号F2栋
- 代理机构: 北京中强智尚知识产权代理有限公司
- 代理商 朱春元
- 主分类号: H01L31/18
- IPC分类号: H01L31/18 ; H01L31/0216 ; C23C16/30 ; C23C16/34 ; C23C16/40 ; C23C16/50
摘要:
本发明提供了一种复合绝缘膜的制作方法,所属光通信技术领域,复合绝缘膜的制作方法包括:在衬底上沉积SiNx层;在SiNx层上沉积SiO2钝化层。解决了现有技术中存在的PECVD沉积的SiO2一般都具有较大的压应力,这使得在后工序的划裂片工艺中,会因薄膜应力过大,导致部分SiO2脱落等问题。本发明通过在衬底与SiO2钝化层中间沉积一层SiNx来降低膜系整体的应力,使新膜系在有张应力的SiNx后表现出来的应力更小。采用该方法制作的膜系作为刻蚀掩膜,在图形上精度更高,在刻蚀的过程中压应力更小,不仅可以提供高刻蚀精度,还能够起到很好的保护作用,能够吸收在刻蚀过程中高速离子团的轰击产生的能量,刻蚀后不生成裂纹,同时可以增加金丝键合的可靠性,提高了膜系的良率。
IPC分类: