发明公开
- 专利标题: 基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法
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申请号: CN202211072177.3申请日: 2022-09-02
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公开(公告)号: CN115423838A公开(公告)日: 2022-12-02
- 发明人: 余航 , 刘志恒 , 孙逸博 , 蒋浩然 , 周绥平
- 申请人: 西安电子科技大学
- 申请人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人: 西安电子科技大学
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市太白南路2号
- 代理机构: 陕西电子工业专利中心
- 代理商 陈宏社; 王品华
- 主分类号: G06T7/187
- IPC分类号: G06T7/187 ; G06V10/762 ; G06V10/54 ; G06V10/56 ; G06V10/74 ; G06V20/13
摘要:
本发明提出了一种基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法,用于提高SAR图像分割精度。实现步骤为:采用SLIC超像素算法对SAR图像进行分割;提取每个超像素的灰度特征和纹理特征;获取每两个相邻超像素之间的相似性系数;确定待合并的超像素对;计算每个待合并超像素对的合并指数;获取SAR图像多特征区域合并结果;判断超像素的个数与阈值的大小;输出新合并的超像素的SAR图像。本发明首先使用SLIC超像素算法对SAR图像进行过分割,然后借助不同特征将相邻超像素融合,提高了SAR图像的分割精度。