发明公开
CN115440727A 半导体器件及其形成方法
审中-实审
- 专利标题: 半导体器件及其形成方法
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申请号: CN202210512154.3申请日: 2022-05-11
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公开(公告)号: CN115440727A公开(公告)日: 2022-12-06
- 发明人: 何彩蓉 , 李资良
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京德恒律治知识产权代理有限公司
- 代理商 章社杲; 李伟
- 优先权: 63/229,615 20210805 US 17/668,144 20220209 US
- 主分类号: H01L27/088
- IPC分类号: H01L27/088 ; H01L21/033 ; H01L21/8234
摘要:
器件包括包含有源区域的衬底、有源区域上方的栅极堆叠件以及栅极堆叠件上方的硬掩模。硬掩模包括覆盖层、沿覆盖层的侧壁和底部延伸的支撑层、以及沿着支撑层的侧壁和底部延伸的衬垫层。支撑层包括金属氧化物材料或金属氮化物材料。本发明的实施例还提供了形成半导体器件的方法。
IPC分类: