本申请实施例涉及半导体电路测试领域，特别涉及一种测试方法及测试系统，包括：向存储模块中写入第一初始数据，ECC模块基于第一初始数据，编码生成对应于第一初始数据的第一校验数据，并将第一校验数据写入存储模块；向存储模块的同一地址中写入第二初始数据；读出存储模块中的第二初始数据和第一校验数据，ECC模块基于第二初始数据，编码生成对应于第二初始数据的第二校验数据，并基于第一校验数据和第二校验数据校验并修正第二初始数据；读出存储器的第一读出数据，并基于第一读出数据，判断ECC模块的功能是否异常，第一读出数据为ECC模块校验并修正后的第二初始数据，以提供对存储器的ECC功能简单且可靠的测试方法。