Invention Publication
- Patent Title: 基于电离层延迟估计模型中长基线监测方法、装置和介质
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Application No.: CN202310108809.5Application Date: 2023-02-10
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Publication No.: CN115980790APublication Date: 2023-04-18
- Inventor: 杨威 , 易清根 , 单弘煜 , 潘国富
- Applicant: 广州市中海达测绘仪器有限公司
- Applicant Address: 广东省广州市番禺区东环街番禺大道北555号天安总部中心13号楼202房
- Assignee: 广州市中海达测绘仪器有限公司
- Current Assignee: 广州市中海达测绘仪器有限公司
- Current Assignee Address: 广东省广州市番禺区东环街番禺大道北555号天安总部中心13号楼202房
- Agency: 广东捷成专利商标代理事务所
- Agent 宋安东
- Main IPC: G01S19/07
- IPC: G01S19/07 ; G01S19/25 ; G01S19/37 ; G01S19/39 ; G01S19/40 ; G01S19/44 ; G01B7/16 ; G01S19/14

Abstract:
本发明公开了一种基于电离层延迟估计模型的中长基线监测方法、装置和介质,该方法包括:为每颗卫星附加一个电离层参数,采用随机游走模型构建电离层延迟时间约束模型;通过卡尔曼滤波窄巷双差观测模型得到窄巷浮点模糊度,滤波宽巷双差观测模型得到宽巷浮点模糊度;通过LAMBDA搜索固定得到宽巷固定模糊度,并选取精度较高的约束窄巷浮点模糊度,再通过LAMBDA搜索固定得到窄巷固定模糊度;对窄巷固定模糊度进行检核,并更新位置参数。本发明,充分考虑了电离层延迟的差异性和时间相关性,提高了中长基线解算的质量和精度。另外,选取高可靠性的宽巷模糊度作为观测值对窄巷浮点模糊度进行约束,加快浮点模糊度和和电离层延迟参数的收敛。
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