发明公开
- 专利标题: 金属互连结构的制备方法、金属互连结构及半导体组件
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申请号: CN202310516214.3申请日: 2023-05-09
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公开(公告)号: CN116230631A公开(公告)日: 2023-06-06
- 发明人: 栾庆洁 , 项金娟 , 袁鹏 , 焦正赢 , 王桂磊 , 赵超
- 申请人: 北京超弦存储器研究院
- 申请人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街52幢5层501-12
- 专利权人: 北京超弦存储器研究院
- 当前专利权人: 北京超弦存储器研究院
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区景园北街52幢5层501-12
- 代理机构: 华进联合专利商标代理有限公司
- 代理商 杨明莉
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768 ; H01L23/538
摘要:
本公开涉及金属互连技术领域,提供了一种金属互连结构的制备方法、金属互连结构以及半导体组件。该制备方法包括如下步骤:提供电介质层,电介质层中具有互连凹槽;在互连凹槽中制备金属互连层;以及,采用包括钴有机化合物的原料,通过原子层沉积法在金属互连层上制备钴金属层,在钴有机化合物中,钴原子与四个氮原子以单键键合,四个氮原子两两成对,每对氮原子之间以有机基团相连接。相较于传统技术,通过原子层沉积法的方式制备钴膜,能够有效提高钴膜的制备可控性以及薄膜质量。
公开/授权文献
- CN116230631B 金属互连结构的制备方法、金属互连结构及半导体组件 公开/授权日:2024-01-30
IPC分类: