发明公开
- 专利标题: 一种金属材料FIB-SEM原位拉伸疲劳测试方法
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申请号: CN202310250818.8申请日: 2023-03-14
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公开(公告)号: CN116337914A公开(公告)日: 2023-06-27
- 发明人: 张显程 , 王继 , 聂文睿 , 闫亚宾 , 王润梓 , 李凯尚 , 涂善东
- 申请人: 华东理工大学
- 申请人地址: 上海市徐汇区梅陇路130号
- 专利权人: 华东理工大学
- 当前专利权人: 华东理工大学
- 当前专利权人地址: 上海市徐汇区梅陇路130号
- 代理机构: 北京方圆嘉禾知识产权代理有限公司
- 代理商 刘璐璐
- 主分类号: G01N23/2251
- IPC分类号: G01N23/2251 ; G01N23/2202 ; G01N23/203
摘要:
本发明公开一种金属材料FIB‑SEM原位拉伸疲劳测试方法,涉及金属性能测试领域,包括以下步骤:步骤一、将样品块设置于SEM的样品台上,根据样品块的EBSD结果挑选合适晶粒,在FIB视角下找到对应位置;步骤二、利用FIB在选定位置处进行切割,将样品块切割为基体块和微块两部分,机械手带动微块远离基体块;步骤三、将基体块由样品台取下,并将载物块设置于样品台上,将微块固定于载物块上;步骤四、对固定好的微块进行试样形状的加工;步骤五、将样品台取下,并将样品台设置于原位力学测试平台的加载台上,进行拉伸疲劳试验。该方法可用于开展金属材料在FIB‑SEM系统下微观拉伸疲劳行为研究。