- 专利标题： 芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置
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申请号： CN202310651538.8申请日： 2023-06-05
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公开(公告)号： CN116400199B公开(公告)日： 2023-09-15
- 发明人: 夏显召 , 董长青 , 翟瑞卿 , 李予佳 , 李明阳 , 赵瑞 , 吴含冰 , 戎辉 , 窦汝鹏
- 申请人： 中国汽车技术研究中心有限公司 , 中汽研软件测评(天津)有限公司
- 申请人地址： 天津市东丽区先锋东路68号;
- 专利权人： 中国汽车技术研究中心有限公司,中汽研软件测评(天津)有限公司
- 当前专利权人： 中国汽车技术研究中心有限公司,中汽研软件测评(天津)有限公司
- 当前专利权人地址： 天津市东丽区先锋东路68号;
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G06F11/22 ; G06F11/263
摘要：
本发明涉及一种芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置，涉及芯片测试领域，在有限时间内将毛刺时钟信号输入至各待测芯片，使各待测芯片在系统时钟信号和毛刺时钟信号之间切换，将来自各待测芯片的输出信号进行异或运算，实现批量交叉验证，本发明基于时钟毛刺故障注入的批量级测试；而且，实现了毛刺时钟信号与系统时钟信号切换过程中，以及周期变化的毛刺时钟信号的批量测试。
公开/授权文献
- CN116400199A 芯片时钟毛刺故障注入交叉验证测试方法和装置 公开/授权日：2023-07-07
