基于纹理特征分析的坑槽识别方法、装置、设备及介质
摘要:
本发明公开了一种基于纹理特征分析的坑槽识别方法、装置、设备及介质,所述方法包括:对坑槽图像进行基于HSV的背景识别,得到背景掩膜图像;对背景掩膜图像进行超像素划分;获取超像素的四个方向的灰度共生矩阵,计算灰度共生矩阵的能量和熵,作为超像素的纹理特征,通过纹理特征进行超像素的聚类;建立标记图像,通过形态学方法,选取疑似坑槽区域,去除伪坑槽区域,实现坑槽识别。本发明解决了目前坑槽识别时存在的轮廓不够准确、定位精度不高的问题,在坑槽识别的过程中,将坑槽图像进行了基于HSV的背景识别,有效去除了复杂背景的影像,且后续应用超像素方法,保留了坑槽的准确边缘,并基于纹理特征,使得坑槽识别的准确度得到了较大提升。
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