Invention Publication
- Patent Title: 一种小样本集下基于深度网络的梨缺陷分类方法
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Application No.: CN202310483086.7Application Date: 2023-05-04
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Publication No.: CN116486173APublication Date: 2023-07-25
- Inventor: 梅芳芳 , 侯文慧 , 周传起 , 王玉伟 , 王宇杰 , 张大山
- Applicant: 安徽农业大学
- Applicant Address: 安徽省合肥市长江西路130号
- Assignee: 安徽农业大学
- Current Assignee: 安徽农业大学
- Current Assignee Address: 安徽省合肥市长江西路130号
- Agency: 深圳市广诺专利代理事务所
- Agent 李亚萍
- Main IPC: G06V10/764
- IPC: G06V10/764 ; G06V10/44 ; G06V10/80 ; G06V10/82 ; G06N3/0464 ; G06N3/08 ; G06V20/68

Abstract:
本发明公开了一种小样本集下基于深度网络的梨缺陷分类方法,步骤如下:步骤S1:采集不同缺陷类型的梨图像,建立缺陷图像数据库;步骤S2:将缺陷梨图像划分为图像块,并根据缺陷分类;将图像缺陷做成标签,形成mat文件,作为小样本数据集标签;步骤S3:提取每个图像块的多种特征,并进行归一化;步骤S4:将图像块的多种特征按顺序合并成mat文件,形成特征向量;步骤S5:重复步骤S1至步骤S4提取每个图像块特征向量,形成特征矩阵,并与标签数据合并为小样本数据集;按8:2的比例将数据集划分为训练数据集和测试数据集;步骤S6:构建深层网络对数据集进行训练,实现特征融合和选择;步骤S7:提取图像块的多种特征,利用训练好的网络对特征进行智能分类。
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