Invention Publication
- Patent Title: 低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统
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Application No.: CN202310762995.4Application Date: 2023-06-27
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Publication No.: CN116520137APublication Date: 2023-08-01
- Inventor: 高杰 , 成睿琦 , 赵扬 , 仝傲宇 , 黄保成 , 杨小娟 , 翟振
- Applicant: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司
- Applicant Address: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼;
- Assignee: 北京智芯微电子科技有限公司,北京芯可鉴科技有限公司
- Current Assignee: 北京智芯微电子科技有限公司,北京芯可鉴科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园A区3号楼;
- Agency: 北京润平知识产权代理有限公司
- Agent 李红
- Main IPC: G01R31/28
- IPC: G01R31/28 ; G01R1/04 ; G01R31/00

Abstract:
本申请提供一种低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统,属于芯片电磁兼容测量技术领域。所述低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置包括:辅助测量支架和多个SMA转BNC接头;所述辅助测量支架上开设有多个安装孔,多个所述SMA转BNC接头一一对应安装在所述安装孔内,且与所述辅助测量支架形成导电接触,多个所述安装孔间隔预设间距设置;所述辅助测量支架与地形成导电接触。该干扰测量辅助装置采用辅助测量支架实现接地,减少接地电阻,设计SMA转BNC接头用于连接被测芯片和示波器,有利于减小寄生电感。
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