低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统
Abstract:
本申请提供一种低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置及测量系统,属于芯片电磁兼容测量技术领域。所述低噪声芯片引脚干扰测量辅助装置包括:辅助测量支架和多个SMA转BNC接头;所述辅助测量支架上开设有多个安装孔,多个所述SMA转BNC接头一一对应安装在所述安装孔内,且与所述辅助测量支架形成导电接触,多个所述安装孔间隔预设间距设置;所述辅助测量支架与地形成导电接触。该干扰测量辅助装置采用辅助测量支架实现接地,减少接地电阻,设计SMA转BNC接头用于连接被测芯片和示波器,有利于减小寄生电感。
Patent Agency Ranking
0/0