本发明公开了一种免触式芯片检测系统，该平台包括PC机、数据解析/转发模块、源信号激励模块、选通阵列及待测芯片槽。该平台可以通过PC机的可视化界面实现一次性多项选择，完成芯片任意管脚间阻值、任意管脚间容值、任意管脚间封装完整性、任意管脚电压和芯片整体功耗的自动一体化测试。与传统机械探针点触式的检测系统相比，本发明的体积更为小巧；同时采用了可自动选通的物理通路切换方式，与传统方式相比具有更高的切换速率，可实现更高效率的封装测试。