缺陷检测方法、装置、电子束量测设备及计算机存储介质
摘要:
本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子束量测设备及计算机存储介质,缺陷检测方法包括:获取多通道图像;对多通道图像中的每个通道图像分别进行图像配准,以提取目标图像;对每个目标图像进行缺陷检测,获得对应的缺陷列表单元;将所有的缺陷列表单元进行拼接,获得总缺陷列表;对总缺陷列表中的缺陷进行筛选,获得目标缺陷;该缺陷检测方法能够发挥各通道检测结果的优势,避免各个通道检测结果不同时存在的复检冲突,确保各通道检测结果的一致性,从而提高了多通道缺陷检测的检测精度。
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