发明公开
- 专利标题: 缺陷检测方法、装置、电子束量测设备及计算机存储介质
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申请号: CN202310468168.4申请日: 2023-04-27
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公开(公告)号: CN116612075A公开(公告)日: 2023-08-18
- 发明人: 陈杰运 , 韩春营 , 徐佳
- 申请人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
- 专利权人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 当前专利权人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
- 代理机构: 北京汇知杰知识产权代理有限公司
- 代理商 张婷婷; 杨彦鸿
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/30 ; G01N23/2251
摘要:
本申请提供一种缺陷检测方法、装置、电子束量测设备及计算机存储介质,缺陷检测方法包括:获取多通道图像;对多通道图像中的每个通道图像分别进行图像配准,以提取目标图像;对每个目标图像进行缺陷检测,获得对应的缺陷列表单元;将所有的缺陷列表单元进行拼接,获得总缺陷列表;对总缺陷列表中的缺陷进行筛选,获得目标缺陷;该缺陷检测方法能够发挥各通道检测结果的优势,避免各个通道检测结果不同时存在的复检冲突,确保各通道检测结果的一致性,从而提高了多通道缺陷检测的检测精度。