半导体器件的形成方法
摘要:
本发明提供了一种半导体器件的形成方法,包括:提供SONOS存储器的IP单元,IP单元包括依次形成在半导体基底上的顶层金属层和钝化层,钝化层覆盖顶层金属层,顶层金属层呈多个条形状,顶层金属层以及钝化层在端部与半导体基底之间形成有夹角,顶层金属层以及钝化层在侧面与半导体基底之间形成有夹角;在钝化层的表面形成一层第一光刻胶层,第一光刻胶层覆盖钝化层和夹角;去除钝化层表面的第一光刻胶层,将夹角内的第一光刻胶保留;刻蚀钝化层,露出部分顶层金属层的表面,以作为PAD;清除残留在夹角的第一光刻胶层。本发明可以保护顶层金属层在夹角处的边角,防止顶层金属层被误刻蚀,从而减少外观异常及封装可靠性的异常。
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