发明公开
CN116801639A 半导体器件的形成方法
审中-实审
- 专利标题: 半导体器件的形成方法
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申请号: CN202310944612.5申请日: 2023-07-28
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公开(公告)号: CN116801639A公开(公告)日: 2023-09-22
- 发明人: 曹俊 , 王军明 , 陆涵蔚
- 申请人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 申请人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
- 专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
- 当前专利权人地址: 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祖冲之路1399号
- 代理机构: 上海思微知识产权代理事务所
- 代理商 张亚静
- 主分类号: H10B43/50
- IPC分类号: H10B43/50 ; H10B43/30 ; H01L21/768
摘要:
本发明提供了一种半导体器件的形成方法,包括:提供SONOS存储器的IP单元,IP单元包括依次形成在半导体基底上的顶层金属层和钝化层,钝化层覆盖顶层金属层,顶层金属层呈多个条形状,顶层金属层以及钝化层在端部与半导体基底之间形成有夹角,顶层金属层以及钝化层在侧面与半导体基底之间形成有夹角;在钝化层的表面形成一层第一光刻胶层,第一光刻胶层覆盖钝化层和夹角;去除钝化层表面的第一光刻胶层,将夹角内的第一光刻胶保留;刻蚀钝化层,露出部分顶层金属层的表面,以作为PAD;清除残留在夹角的第一光刻胶层。本发明可以保护顶层金属层在夹角处的边角,防止顶层金属层被误刻蚀,从而减少外观异常及封装可靠性的异常。