一种晶片测试载架。为提供一种保证测试准确性、使用方便、提高测试速度的半导体元件生产辅助装置，提出本发明，它包括中央处开设容置空间的基板、端板、中央处开设通孔的固定板、定位于固定板通孔内的压板及端边枢设于固定板的盖板；端板上设有矩形通孔，矩形通孔内嵌设借以电性连接BGA封装形式晶片球型接脚以进行测试的接触面板，接触面板由导电软性材质构成，其上、下表面上分别具有复数电性连接点及呈电性连通；固定板及端板分别设置于基板上、下方。