发明公开
CN117129029A 一种芯片检测方法及系统
审中-实审
- 专利标题： 一种芯片检测方法及系统
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申请号： CN202311396196.6申请日： 2023-10-26
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公开(公告)号： CN117129029A公开(公告)日： 2023-11-28
- 发明人: 王林梓 , 张立芳 , 胡勇 , 张宏鑫 , 翁鑫 , 马铁中
- 申请人： 昂坤视觉(北京)科技有限公司
- 申请人地址： 北京市昌平区沙河镇昌平路97号7幢5层503-1室
- 专利权人： 昂坤视觉(北京)科技有限公司
- 当前专利权人： 昂坤视觉(北京)科技有限公司
- 当前专利权人地址： 北京市昌平区沙河镇昌平路97号7幢5层503-1室
- 代理机构： 南昌旭瑞知识产权代理事务所
- 代理商 刘红伟
- 主分类号： G01D21/00
- IPC分类号： G01D21/00 ; G01N21/84
摘要：
本发明提供了一种芯片检测方法及系统，该方法包括：当获取到待检测芯片时，通过低倍镜头构建出与待检测芯片适配的检测模板以及检测区域，检测模板设于检测区域内；启用高倍镜头，并通过高倍镜头实时采集待检测芯片的高倍芯片图像；基于预设规则构建出低倍镜头与高倍镜头之间的映射关系，并根据映射关系将高倍芯片图像映射至检测模板中，以对应完成待检测芯片的检测。本发明能够大幅节省计算资源，同时提升了用户的使用体验。
公开/授权文献
- CN117129029B 一种芯片检测方法及系统 公开/授权日：2024-01-05